Reticles ja Graticules

  • Valaistu ristikko kiväärin tähtäimille

    Valaistu ristikko kiväärin tähtäimille

    Substraatti:B270 / N-BK7 / H-K9L / H-K51
    Mittojen toleranssi:-0,1 mm
    Paksuustoleranssi:±0,05 mm
    Pinnan tasaisuus:2(1)@632,8 nm
    Pintalaatu:20/10
    Viivan leveys:vähintään 0,003 mm
    Reunat:Maadoitus, max 0,3 mm.Täysleveä viiste
    Kirkas aukko:90 %
    Rinnakkaisuus:<5”
    Pinnoite:Korkea optinen tiheys läpinäkymätön kromi, Tabulat < 0,01 % @ Näkyvä aallonpituus
    Läpinäkyvä alue, AR: R<0,35 % @ Näkyvä aallonpituus
    Käsitellä asiaa:Lasi etsataan ja täytetään natriumsilikaatilla ja titaanidioksidilla

  • Tarkkuusristikot – Chrome on Glass

    Tarkkuusristikot – Chrome on Glass

    Substraatti:B270 /N-BK7 / H-K9L
    Mittojen toleranssi:-0,1 mm
    Paksuustoleranssi:±0,05 mm
    Pinnan tasaisuus:3(1)@632,8 nm
    Pintalaatu:20/10
    Viivan leveys:Vähintään 0,003 mm
    Reunat:Maadoitus, max 0,3 mm.Täysleveä viiste
    Kirkas aukko:90 %
    Rinnakkaisuus:<30”
    Pinnoite:Yksikerroksinen MgF2, Ravg<1,5%@Design Wavelength

    Viiva/Piste/Kuva: Cr tai Cr2O3

     

  • Tarkka optinen rako – kromi lasilla

    Tarkka optinen rako – kromi lasilla

    Substraatti:B270
    Mittojen toleranssi:-0,1 mm
    Paksuustoleranssi:±0,05 mm
    Pinnan tasaisuus:3(1)@632,8 nm
    Pintalaatu:40/20
    Viivan leveys:0,1 mm ja 0,05 mm
    Reunat:Maadoitus, max 0,3 mm.Täysleveä viiste
    Kirkas aukko:90 %
    Rinnakkaisuus:<5”
    Pinnoite:Korkea optinen tiheys läpinäkymätön kromi, Tabulat < 0,01 % @ Näkyvä aallonpituus

  • Vaihemikrometrien kalibrointivaakojen ristikot

    Vaihemikrometrien kalibrointivaakojen ristikot

    Substraatti:B270
    Mittojen toleranssi:-0,1 mm
    Paksuustoleranssi:±0,05 mm
    Pinnan tasaisuus:3(1)@632,8 nm
    Pintalaatu:40/20
    Viivan leveys:0,1 mm ja 0,05 mm
    Reunat:Maadoitus, max 0,3 mm.Täysleveä viiste
    Kirkas aukko:90 %
    Rinnakkaisuus:<5”
    Pinnoite:Korkea optinen tiheys läpinäkymätön kromi, Tabulat < 0,01 % @ Näkyvä aallonpituus
    Läpinäkyvä alue, AR: R<0,35 % @ Näkyvä aallonpituus